Sensore confocale di precisione cromatica

La gamma di sensori cromatici confocali Micro-Epsilon è stata ampliata con un nuovo sensore di precisione per la misurazione dello spostamento e dello spessore. Il modello confocalDT IFS2407-1.5 è particolarmente adatto alle superfici curve e strutturate. Sulle superfici diffuse, il sensore con un'apertura numerica di 0,7 raggiunge un elevato angolo di misura di ±70°.

È particolarmente adatto per i pezzi di precisione come le ruote dentate, i cui fianchi ripidi e lucidi vengono riprodotti in modo estremamente affidabile e con elevata precisione. Ciò è particolarmente vero in combinazione con il nuovo controller confocale ad alta intensità IFC2465HP, grazie al quale il sensore ottiene risultati eccezionali grazie alla regolazione automatica del tempo di esposizione, all'elevata intensità luminosa e alla velocità di misurazione.

Un altro campo di applicazione del sensore è la misurazione di lenti, in quanto in questo caso sono richiesti ampi angoli di misurazione, soprattutto sui bordi. Il sensore è inoltre caratterizzato da un piccolo spot luminoso, estremamente ridotto a soli 5,5 µm, che offre un'eccellente risoluzione laterale di <3 µm. Ciò consente una misurazione stabile delle strutture più sottili.

Altre notizie

25.04.2024 02:10

Sensori laser in sostituzione dei pulsanti

I sensori laser optoNCDT 1220 di Micro-Epsilon sono utilizzati per la misurazione geometrica dei...

16.04.2024 01:00

Micro-Epsilon: innovazioni per i sensori alla Hannover Messe 2024

Le tendenze innovative per l'automazione industriale vi aspettano alla Hannover Messe.

La...

06.04.2024 01:05

Sensore istantaneo 3D ad alte prestazioni per ampi campi di misura di MICRO-EPSILON Messtechnik

Il surfaceCONTROL 3xx0-240, con un ampio campo di misura e un'eccezionale qualità dei dati 3D, cattu...

24.03.2024 01:05

Novità: micrometri ad alte prestazioni per le esigenze più elevate di MICRO-EPSILON Messtechnik

Il nuovo micrometro a LED ad alte prestazioni optoCONTROL 2700 consente una precisione senza pari...

08.03.2024 01:10

Misura dello spessore e della struttura dei wafer solari

Nella produzione di wafer solari, i wafer grezzi vengono prima segati dai cosiddetti lingotti. Qu...

27.02.2024 01:35

Misura dello spessore in linea con prestazioni superiori

I sistemi di misurazione dello spessore in linea thicknessGAUGE, adatti agli OEM, sono ora ancora...