Dirk Steiner, Business Development Manager di Yxlon, si occupa intensamente di tomografia computerizzata industriale dal 2004 e ha scansionato e analizzato più di 1.000 set di dati. Qui avete l'opportunità di guardare la registrazione del webinar Today's Metrology Live di GIE Media e sentire come i compiti metrologici impegnativi vengono risolti in modo affidabile con la tomografia computerizzata. Yxlon era presente insieme ai produttori di altre tecnologie legate alla metrologia per fornire una panoramica completa delle soluzioni.

Dirk ha parlato delle ultime tendenze della metrologia con l'uso della tomografia computerizzata (TC) industriale e di come i dati siano la chiave per ottenere le informazioni di cui i produttori hanno bisogno per aumentare l'efficienza e ridurre i costi. La cosa più importante per i produttori è l'alta qualità dei loro prodotti. Alla 'tavola rotonda', cinque partecipanti hanno discusso come le loro soluzioni possono aiutare i produttori a raggiungere questo obiettivo. Tuttavia, misurare e analizzare le strutture interne è possibile solo con la TC.

In risposta a una delle domande poste, Dirk ha detto: "La TC è un metodo non tattile, quindi non cambiamo la geometria nel processo. Possiamo vedere le strutture interne, e con la grande tendenza verso la produzione additiva oggi, non ci sono limiti a ciò che si può progettare e stampare. Con la TAC, possiamo guardare all'interno e misurare le cose che sono sottosquadro o addirittura nascoste all'interno del pezzo. Inoltre, otteniamo anche dati da difetti, difetti interni, che di per sé non hanno nulla a che fare con la metrologia. Così prendiamo due piccioni con una fava"